辐射近场测量需要解决的问题：1.时域辐射近场测量的研究：为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响，深圳高精度近场扫描优点，时域测量是一个良好的解决此类问题的途径，但目前处于研究阶段。2.无相位的辐射近场测量的研究：前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80GHz，深圳高精度近场扫描优点，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法，深圳高精度近场扫描优点。比消声室测量精度更高100Hz以下，不需要房间校正曲线。深圳高精度近场扫描优点

近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，然后利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。深圳可视化近场扫描功能定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。

EMI近场辐射特性：SSCG示例：某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。频率变化发生在额定时钟中心频率（中心扩频调制）附近，扩展的频谱为正或负1.0%（fdev）。在接收器并行总线端，输出以千赫兹（fmod）的调制速率随时间调制时钟频率和数据频谱。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。该公司期望用令人信服的量化证据来向汽车厂商说明SSCG功能可以有效降低EMI辐射。

极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。为了实现这个目标，设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件（DUT）放其内部扫描仪上，加电，然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比，在打开SSCG功能的情况下，对同一待测器件进行了扫描。为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱（幅度与频率）特性。通过对比，可以发现辐射已经显着减少。近场扫描测试能计入环境影响吗?近场测试是测的近场的表面电流,或者说很近的电磁场。

众所周知，在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量；若被测目标是散射体，则称为散射近场测量；对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。但是，截止目前为止，关于辐射、散射近场测量以及近场成像技术溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导，这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态，该文概述了近几十年来关于辐射、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新的进展，并指出了未来研究的主要方向。基线（半双工）系统的空间和频谱特性。展示了全双工模式下的辐射扫描结果。深圳可视化近场扫描功能

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队使用了内部的EMI极近场扫描仪。深圳高精度近场扫描优点

快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。深圳高精度近场扫描优点

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