天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。辐射近场测量的研究起始于50年代，70年代中期处于推广应用阶段（商品化阶段）。目前，深圳天线近场辐射测试方法，分布在世界各地的近场测量系统已有100多套。该技术的基本理论已基本成熟，深圳天线近场辐射测试方法，这种测量方法的电参数测量精度比常规远场测量方法的测量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有较高的保密性，因此，深圳天线近场辐射测试方法，在民用中都显示出了它独特的优越性。辐射强度的衰减要比感应场慢得多。深圳天线近场辐射测试方法

目前市场上提供用于电磁兼容认证合规测试的仪器和系统，往往价格非常昂贵的，而且还需要建立专业精良的电磁兼容实验室或租用实验室，投入成本高，测试步骤非常繁琐。因此对新产品的研发，为了取得EMC相关认证，常常在电磁兼容认证实验室和公司研发部门之间来回奔波，不断地重新设计、整改、再测试。企业为产品由于电磁辐射干扰强度超过了电磁兼容标准规定而不能出厂，或由于电路模块之间的电磁干扰造成系统不能正常工作，从而延误了产品的上市而烦恼。因此工程师们非常有必要在设计期间在产品研发阶段进行合规性预测试，以保证研发的产品电磁辐射测量结果满足电磁辐射规定要求和产品上市进度。深圳干扰源近场辐射系统价格实际上电场和磁场互相产生，这样的“单独”波就是无线电波。

设计团队对空间扫描结果和频谱扫描结果进行了仔细的对比。很多人可能认为辐射特性会由于扩展的双向传输功能而呈现出更高的电磁输出。而实际上，与基线相比，全双工模式下没有出现尖峰信号并且峰值辐射基本相似，甚至其EMI特性还略有改进（空间扫描结果呈现更深的蓝色）。测试结果证明全双工模式的新芯片组未出现明显的变化，设计团队在没有采取任何额外缓解措施的情况下实现了全双工功能。这些测试是利用这家半导体公司的内部极近场扫描系统进行的。在短短的几分钟内，就获得了上文所示的结果。因为辐射特性结果清楚的展示了其优越的性能，设计无需采取任何额外的缓解措施。

目标成像的研究已有几十年的历史了，其研究成果早已用于医学的X光诊断及雷达的目标识别。用近场研究目标的像是80年代末才开始的，它是在已知目标散射近场和入射场情况下，利用微波分集技术，逆推或反演表征目标几何特征的目标函数，由目标函数给出目标的几何形状，这一过程称为目标的近场成像。这种测量方法的另一致命弱点是测量时间很长，测量时间与取样点数几乎成四次方的关系，实用目标的测量时间达到了不可容忍的程度。测量环境对散射近场测量散射体电特性也有很大的影响，除了在测量区域附加吸收材料外，还需要用到“背景对消技术”，其基本原理为：在无散射体的情况下，先用收、发探头对测量区域空间扫描一次，并记录采样数据；在有散射体的情况下，记录这时扫描测量的采样数据，在保证一维扫描器（取样架）定位精度的条件下，利用计算机软件对两次对应位置的测量数据逐点进行矢量相减（复数相减），这样就消除了环境对测量数据的影响。远场分量的强度距离衰减二次组件。

近场EMI测量的问题在于使用近场探头的测量结果和使用天线进行远场测量的结果无法直接进行数学转换。但是存在一个基本原理：近场的辐射越大，远场的辐射也必然越大。所以使用近场探头测量，实际上是一个相对量的测量，而不是精确的一定量测量。使用近场探头进行EMI预兼容测试时，我们常常把新被测件测试结果和一个已知合格被测件的近场探头测试（近场测试）结果进行比较，来预测EMI辐射泄漏测试（远场测试）的结果，而不是直接和符合EMI兼容标准的限制线进行比较。同时，测试的一定数值意义也不大，因为这个测试结果和诸多变量，包括探头的位置方向、被测件的形状等会密切相关。转发后的信号被调制为正弦波，电压呈极性变化。深圳干扰源近场辐射系统价格

反应区里，电场和磁场是很强的，并且可以单独测量。深圳天线近场辐射测试方法

个人辐射剂量仪是一款小型高灵敏度的个辐射剂量报警仪，采用了型的低功耗嵌入式微处理器作为数据处理单元，探测器采用的是高灵敏的GM计数器。仪器具有响应快，测量范围宽,应用范围广的特点。可监测X、γ射线和硬β射线，是一款通用型辐射剂量测量仪。个人辐射剂量仪特点：1、监测X、γ及硬β射线。2、仪器灵敏度高，对环境本底亦可测量；3、中、英文双语操作界面。4、剂量率和累积剂量同时测量和显。5、掉点后数据保存不丢失。6、图形式液晶显示，屏幕很大。7、功耗低，有电池欠压指示功能。8、仪器可预置剂量率和累积剂量报警阈值深圳天线近场辐射测试方法

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