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深圳快速近场扫描系统设备方案 来电咨询 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

近场扫描系统的制作方法:测量一件介质板对电磁波的响应特征,需要用一个馈源发射电磁波,然后用一个采集设备来采集馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性,然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析,通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化,推导出介质材料对电磁波的响应特性,深圳快速近场扫描系统设备方案。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统,深圳快速近场扫描系统设备方案,馈源、介质板及采集单元的位置都是手工调节的,测试效率低,深圳快速近场扫描系统设备方案,定位又不准确。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。深圳快速近场扫描系统设备方案

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性,设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成,计算机模拟及各项误差的上界也已给出;柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。他们将原来的半双工板放在扫描仪上,进行基线测量。对待测器件加电后,他们在PC上开启了扫描仪。采用同样的测试设置,设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板,同时也针对每一条特性保持了同样的规格。如上文所述,需注意的是,空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上,以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。深圳连续近场扫描仪器采用同样的测试设置,设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板。

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性,设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上,进行基线测量。对待测器件加电后,他们在PC上开启了扫描仪。这是同一家半导体供应商的第二个例子,该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中,设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中,从而实现了双向传输(全双工)。

散射近场测量:1.天线口径场分布诊断:天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布,从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元,这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的,尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。2.测量精度及误差分析:辐射近场测量的研究与误差分析的探讨是同时进行的,研究结果表明:辐射近场测量的主要误差源为18项,大致分为4个方面,即探头误差、机械扫描定位误差、测量系统误差以及测量环境误差。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成,计算机模拟及各项误差的上界也已给出;柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。基线(半双工)系统的空间和频谱特性。展示了全双工模式下的辐射扫描结果。

扫描系统由一个扫描仪、小型适配器、一个客户提供的频谱分析仪和运行扫描系统软件的PC组成。台式扫描仪包括2,436条回路,可产生1,218个间隔为7.5mm的磁场探针,形成一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。系统工作频率范围为50kHz至4GHz,通过可选的软件密钥启用。这样,用户就可以自行对设计进行测试,而不必依赖另外一个部门、测试工程师或进行耗时的场外测试。工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后,对设计进行更改,很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行精确的验证。某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。深圳快速近场扫描系统设备方案

近场扫描仪比消声室测量精度更高100Hz以下,不需要房间校正曲线。深圳快速近场扫描系统设备方案

某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。,频率变化发生在额定时钟中心频率(中心扩频调制)附近,扩展的频谱为正或负1.0%(fdev)。在接收器并行总线端,输出以千赫兹(fmod)的调制速率随时间调制时钟频率和数据频谱。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。该公司期望用令人信服的量化证据来向汽车厂商说明SSCG功能可以有效降低EMI辐射。为了实现这个目标,设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件(DUT)放其内部扫描仪上,加电,然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比,在打开SSCG功能的情况下,对同一待测器件进行了扫描。深圳快速近场扫描系统设备方案

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