>> 当前位置:首页 - 产品 - 上海stil传感器测量范围 来电咨询 马波斯测量设备供应

上海stil传感器测量范围 来电咨询 马波斯测量设备供应

信息介绍 / Information introduction

激光干涉位移传感器激光干涉仪:超精密皮米位移传感器可实时测量位移、运动和振动,并具有10MHz的数据带宽。一个控制器可连接三个传感测头。认证精度稳定的激光源可确保在纳米范围内获得认证的重复性和准确性。PTB(德国联邦物理技术研究院)已正式测试井证明了lDS3010的高精度。此外,每个IDS3010都是NIST可追踪的。大距离范围IDS3010够进行从几毫米到30m的动态位移测量。高达10Mhz的高带宽,即使在远距离情况下也可以进行振动检测。紧凑和模块设计IDS3010控制器和传感器头的基于光纤的微型化设计允许集成到空间受限的系统中。它的模块化使更换和重新安排变得容易。真空兼容传感头和光纤甚至可以在极端环境下工作,例如高真空,超高真空,低温或辐射恶劣的环境。马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器,有想法的不要错过哦!上海stil传感器测量范围

上海stil传感器测量范围,传感器

测量状态指示灯包含三个LED信号灯,分别显示系统错误、光信号强度和量程预警。系统错误信号灯指示传输数据是否过载,光信号强度指示灯显示当前光强信号是否超过5%,而量程预警指示灯则显示测量样品是否在量程范围内。系统错误信号灯正常状态为关闭状态,即不显示任何颜色光。但当使用RS232或RS422接口同时传输数据时,测量频率和传输数据格式都可能影响数据传输量。当传输数据量过载时,该信号灯点亮为红色状态,此时则应该适当降低测量频率或更改数据传输格式。此外,选用USB方式传输则会较少遭遇数据过载情况。上海stil传感器测量范围适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理。

上海stil传感器测量范围,传感器

3C行业应用:集成电路自动光学检测红外线传感器黄金接触垫微电子的焊线槽形貌印刷线路板的翘曲测量金线的检测玻璃行业玻璃行业自吹起显示器非平面即曲面的想法,市面上2D、2.5D产品相继出现,经iPhone创办人SteveJobs构思3D曲面玻璃发展蓝图后,开启了发展趋势,相继有厂商投入3D产品各种成型技术的研发。因符合市场大量产品的设计需求,智能手机、智能手表、平板计算机、仪表板等陆续出现,时代进步已经明确引导3D曲面玻璃发展方向。那么3D曲面玻璃有什么优势特点使其能深受广大用户喜爱呢?

Irix?彩色共焦技术?适用于多种应用领域:汽车玻璃玻璃容器与包装工业电子工业(PCB)半导体工业(硅片)用于测量卷对卷、透明和非透明薄膜(例如EV电池盖)的应用3C行业电动汽车工业(电池)机器人学微观力学医学航空手表用于轮廓测量的倾斜角度高达±45°的光学元件用于缩小尺寸设备的缩小直径为4毫米、6毫米和8毫米的光学元件7“集成显示器,具有易于使用的实验室用图形界面2个同步通道,用于卷对卷应用中的非透明目标厚度测量同步测量与编码器精确轮廓重建。3个编码器输入(TTL和HTL型号)2个模拟输出(0÷10V)多达32个校准图以CSV格式保存数据马波斯测量科技是一家专业提供光谱共焦传感器的公司,欢迎您的来电!

上海stil传感器测量范围,传感器

光谱共焦位移传感器原理介绍一束白光点光源,通过色散透镜发生光谱色散,形成不同波长的单色光,每个波长的都有一个完美聚焦点且对应一个相对高度距离值(测量范围)。测量时所有波段的光射到物体表面被原路反射到半透半反射镜并重新聚焦,只有在被测物体上完美聚焦S‘点的波段的光才会通过共焦点小孔S“并被光谱仪感测到,其他波长的光被挡在小孔之外,通过计算进入小孔的光谱波长换算出相对距离。面白光干涉传感器白光干涉测量**于非接触式快速测量,精密零部件之重点部位的表面粗糙度、平面度、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、面形轮廓及台阶段差尺寸,其测量精度可以达到纳米级!目前,在3D测量领域,白光干涉仪是精度比较高的测量仪器之一马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器,有想法可以来我司咨询!上海stil传感器技术

光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,让您满意,有想法可以来我司咨询!上海stil传感器测量范围

生物医疗-人造膝关节粗糙度测量符合ISO标准25178-602,传感器适用任何反射表面机械手表特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射微流体类通过塑料或玻璃等透明层,使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点涡轮叶片特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射电池点对点厚度测量2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量;使用简单,拆装方便,扫描速度快,定位精度高重复精度±0.5~±1µm;稳定性高,抗干扰能力强膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制非接触测量,适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm,适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理上海stil传感器测量范围

免责声明: 本页面所展现的信息及其他相关推荐信息,均来源于其对应的用户,本网对此不承担任何保证责任。如涉及作品内容、 版权和其他问题,请及时与本网联系,我们将核实后进行删除,本网站对此声明具有最终解释权。

查看全部介绍
推荐产品  / Recommended Products