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从而实现在检测和试验过程诉如“老化”试验等）对多个电路模块进行全过程监测.SMT工厂的PCBA功能测试涉及模拟、数字、存储器、RF和电源电路，需要有针对性地采用不同的测试策略。测试内容包括重要功能通路、结构、电路动态功能验证，确定有无电路硬件错误等，以弥补之前所进行的在线测试过程中未能探知的部分。这就需要依据测试要求将模拟、数字激励信号施加于被测电路模块上，同时系统中的测量装置要能监测同等数量的模拟、数字响应信号，并能控制其执行时序及过程。功能测试可在产品制造生命周期不同阶段实施。首先是SMT加工的工程开发阶段，在系统生产验证前确认新产品功能;然后在生产过程中，作为整个流程的一部分，通过系统测试降低缺陷发现成本（遗漏成本）;较后,在发货付运阶段也是不可缺少的,它可以减少在应用现场维修的费用，保证功能正常而不会被退货。SMT工厂的在线测试方案和功能测试方案各有其优缺点，一般根据需要来选择应用哪一种方案。产品质量要求高的可以同时采用两种方案进行测试，先进行在线测试，后进行功能测试，以确保产品质量。功能测试系统一般极少在电路组装生产线中的某环节采用,通常都是在成品检验阶段才投入使用。如上所述。

功能测试(FunctionalTesting)是根据产品的需求规格说明书和测试需求列表，验证产品的功能实现是否符合产品的需求规格。它是系统测试过程中基本的测试，不关注软件内部的实现逻辑。功能测试的目的主要如下：(1)是否有不正确或遗漏的功能。(2)功能实现是否满足用户需求和系统设计的隐藏需求。(3)能否正确地接受输入?能否正确地输出结果。(4)验证业务流程是否正确、合理。以上四个目的在测试过程中并不容易实现。首先，目的应该是相对比较容易实现的，测试工程师只需要按照需求规格说明书来验证即可。接着，第二个目的是验证用户的需求是否被正确地实现，但用户的需求不只是那些显式的需求，还包括一些潜在的、隐藏的需求。而测试的难点恰好就是这些隐藏的需求，解决客户隐藏需求好的办法就是在创建需求规格说明书时，尽量将客户的隐藏需求挖掘出来，但现实中并不是所有的隐藏需求都能被挖掘出来，这时就要求软件测试工程师必须对业务很熟悉，否则在测试过程中就很难发现这些潜在的需求。再次，第三个目的是验证系统处理输入、输出的正确性，需要注意的是这里所讲的正确的接受输入，不仅*指有效数据，还包括无效数据的输入，即系统不仅*要能处理有效数据输入的情况。使用功能测试治具需要做好哪些防护？

供电电源模块交流220V110V稳压电源，对PCBA进行供电3系统控制路由模块包括路由器和串口服务器，实现IPC与各个模块的通讯转换(选配）控制模块西门子PLC控制，实现整机控制逻辑IPC模块上位机软件运行，测试结果显示，数据上传等序号系统模块功能实现1机械结构整机框架设备整机结构框架工装模块针床治具，包括托盘，测试不同的产品需更换不同的工装2功能测试工位蜂鸣器声音检测模块采用声控传感器检测（采用6通道检测）采集模块对PCBA进行电压、电流检测功能通讯模块自行研发，包括通讯检测（红外、RS485、RS232、Mbus、UO）和功能检测（脉冲、继电器等）(选配）视觉模块检测控制板LED灯，暗亮，色差等；检测数码管，缺少笔画等。供电电源模块交流220V110V稳压电源，对PCBA进行供电3系统控制路由模块包括路由器和串口服务器，实现IPC与各个模块的通讯转换(选配）控制模块西门子PLC控制，实现整机控制逻辑IPC模块上位机软件运行，测试结果显示，数据上传等功能参数1、24路直流电压检测，精度达到。2、20路继电器开关信号输出。3、20路IO电平信号输出。4、20路PWM信号输出。5、20路PWM信号采集。6、8路交流电压输入。7、6路直流电源输出。8、2路TX/RX通信。（可扩展到6路选配）。功能测试治具可用于哪些方面？苏州电脑麦克风功能测试

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再结合显微镜可使可见光与红外光同光路，只要在可见的视场下，就可以寻找要分析微量的有机污染物。如果没有显微镜的结合，通常红外光谱只能分析样品量较多的样品。而电子工艺中很多情况是微量污染就可以导致PCB焊盘或引线脚的可焊性不良，可以想象，没有显微镜配套的红外光谱是很难解决工艺问题的。显微红外分析的主要用途就是分析被焊面或焊点表面的有机污染物，分析腐蚀或可焊性不良的原因。扫描电子显微镜分析（SEM）扫描电子显微镜(SEM)是进行失效分析的一种较有用的大型电子显微成像系统，较常用作形貌观察，现时的扫描电子显微镜的功能已经很强大，任何精细结构或表面特征均可放大到几十万倍进行观察与分析。图压延铜箔的毛面在工作距离4mm(左)和5mm(右)的图像在PCB或焊点的失效分析方面，SEM主要用来作失效机理的分析，具体说来就是用来观察焊盘表面的形貌结构、焊点金相组织、测量金属间化物、可焊性镀层分析以及做锡须分析测量等。与光学显微镜不同，扫描电镜所成的是电子像，因此只有黑白两色，并且扫描电镜的试样要求导电，对非导体和部分半导体需要喷金或碳处理，否则电荷聚集在样品表面就影响样品的观察。此外，扫描电镜图像景深远远大于光学显微镜。苏州电路功能测试

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